Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
- 発売日: 2017年12月19日 火曜日 - 発売中
- 新刊発見日: 2017年12月29日
- （2025年08月08日 16時55分 JST時点 - 詳細はこちら）
- Sandeep K. Goel/Krishnendu Chakrabarty
- CRC Press
- ASIN： B078JPLBPS
Kindle版
-
ハードカバー
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems) -
ペーパーバック
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems) -
Kindle版
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
新刊チェックキーワード
nanoscale 1 user
[広告]
