Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
- 発売日: 2017年4月21日 金曜日 - 発売中
- 新刊発見日: 2017年04月06日
- （2025年08月08日 19時45分 JST時点 - 詳細はこちら）
- Sandeep K. Goel/Krishnendu Chakrabarty
- CRC Press
- Amazon.co.jp 価格： ￥13,955.
- （2025年08月08日 19時45分 JST時点 - 詳細はこちら）
- ASIN： 1138075779
- EAN： 9781138075771
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Kindle版
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