Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
- 発売日: 2013年11月13日 水曜日 - 発売中
- 新刊発見日: 2015年06月01日
- 在庫状況： -
- （2025年08月09日 00時43分 JST時点 - 詳細はこちら）
- Sandeep K. Goel/Krishnendu Chakrabarty
- CRC Press
- Amazon.co.jp 価格： ￥17,422.
- （2025年08月09日 00時43分 JST時点 - 詳細はこちら）
- ASIN： 1439829411
- EAN： 9781439829417
ハードカバー
-
Kindle版
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems) -
ペーパーバック
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems) -
Kindle版
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
新刊チェックキーワード
nanoscale 1 user
[広告]
